Para la inspeccion mediante planes de muestreo por atributos se utilizan las normas militares estandar, preparadas para series continuas de lotes del mismo producto. Estan basadas en un tama~no de lote, un nivel de calidad aceptable (AQL), un nivel de inspeccion general (I, II o III) y un rigor de inspeccion (normal, rigurosa o reducida) que se va ajustando en funcion de la calidad de los lotes que se examinan con el historial del vendedor, lo que vara el tama~no de muestra. Una serie de criterios cambian a lo largo del proceso el modo de inspeccion. Este trabajo presenta una hoja de calculo, SIMIL, que proporciona, dados los datos anteriores, los planes de muestreo simple segun el nivel y rigor a seguir. Posteriormente simula un proceso mediante los planes hallados, en el cual, didacticamente mediante diferentes colores e iconos, segun las condiciones, elige muestras, contabiliza las unidades defectuosas y, de acuerdo con la informacion obtenida, planea el futuro de la inspeccion.
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