Sensibilidad del muestreo espacial frente a especificaciones en el problema de diseño

• Autores: María del Carmen Bueso Sánchez , José Miguel Angulo Ibáñez , Francisco Javier Alonso Morales , María Dolores Ruiz Medina
• Localización: XXVI Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa: Úbeda, 6-9 de noviembre de 2001, 2001, ISBN 84-8439-080-2
• Idioma: español
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• Resumen

  • En el estudio de un proceso espacial, no directamente observable, en una región de interés especificada mediante un número finito de localizaciones, se considera la información muestral obtenida al observar otro proceso espacial relacionado sobre una determinada región continua. Para diferentes niveles de discretización de esta región se comparan los resultados de los diseños de muestreo obtenidos según distintas formas de dependencia espacial, adoptando como criterio de selección la maximización de la cantidad de información de Shannon que las variables a observar contendrán con respecto a las variables de interés