Detecting Inclusions in Electrical Impedance Tomography Without Reference Measurements

• Autores: Bastian Harrach, Jin Keun Seo
• Localización: Siam journal on applied mathematics, ISSN 0036-1399, Vol. 69, Nº 6, 2009, págs. 1662-1681
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1137/08072142x
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