False Discovery Rate-Adjusted Charting Schemes for Multistage Process Monitoring and Fault Identification.

• Autores: Yanting Li, Fugee Tsung
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 51, Nº. 2, 2009, págs. 186-205
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/tech.2009.0019
• Texto completo no disponible (Saber más ...)