Using Accelerated Life Tests Results to Predict Product Field Reliability.

• Autores: William Q. Meeker, Luis A. Escobar, Yili Hong
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 51, Nº. 2, 2009, págs. 146-161
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/tech.2009.0016
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