Accelerated Destructive Degradation Test Planning.

• Autores: Ying Shi, Luis A. Escobar, William Q. Meeker
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 51, Nº. 1, 2009, págs. 1-13
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/tech.2009.0001
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