Measurement System Analysis for Binary Data.

• Autores: Wessel N. van Wieringen, Jeroen de Mast
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 50, Nº. 4, 2008, págs. 468-478
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/004017008000000415
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