Length Bias in the Measurements of Carbon Nanotubes.

• Autores: Paul Kvam
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 50, Nº. 4, 2008, págs. 462-467
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/004017008000000442
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