Run-Related Probability Functions Applied to Sampling Inspection.

• Autores: Galit Shmueli, Ayala Cohen
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 42, Nº 2, 2000, pág. 188
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1080/00401706.2000.10485998
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