Goodness-of-fit Tests for GEE with Correlated Binary Data

• Autores: W. PAN
• Localización: Scandinavian journal of statistics: Theory and applications, ISSN 0303-6898, Vol. 29, Nº 1, 2002, págs. 101-110
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1111/1467-9469.00091
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