Blind Identification of Manufacturing Variation Patterns by Combining source Separation Criteria.

• Autores: Xuemei Shan, Daniel W. Apley
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 50, Nº. 3, 2008, págs. 332-343
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/004017008000000316
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