Reliability improvement of InGaN LED backlight module by accelerated life test (ALT) and screen policy of potential leakage LED.

• Autores: Jin Su Jeong, J.-K. Jung, S.-D. Park
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1216-1220
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1016/j.microrel.2008.07.029
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