Goodness-of-fit tests for parametric models based on biased samples

• Autores: R. C. Tiwari, Y. Sun, S. Cui
• Localización: Canadian Journal of Statistics = Revue Canadienne de Statistique, ISSN 0319-5724, Nº 30, 2002, págs. 475-490
• Idioma: inglés
• DOI: 10.2307/3316149
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