Bayesian Analysis of the Sequential Inspection Plan via the Gibbs Sampler.

• Autores: Young H. Chun
• Localización: Operations research, ISSN 0030-364X, Nº. 1, 2008, págs. 235-246
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1287/opre.1070.0501
• Texto completo no disponible (Saber más ...)