Field failure mechanism and improvement of EOS failure of integrated IGBT inverter modules.

• Autores: Jin Su Jeong, S.-H. Hong, S.-D. Park
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1795-1799
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1016/j.microrel.2007.07.087
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