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Wavelet-Based Data Reduction Techniques for Process Fault Detection
Autores:
Myong K. Jeong, Brani Vidakovic
Localización:
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences
,
ISSN
0040-1706,
Nº. 1, 2006
,
págs.
26-40
Idioma:
inglés
DOI
:
10.1198/004017005000000553
Texto completo no disponible
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