Least squares estimation for critical random coefficient first-order autoregressive processes

• Autores: Tae Yoon Kim, I.V. Basawa, S.Y. Hwang
• Localización: Statistics & probability letters, ISSN 0167-7152, Vol. 76, Nº. 3, 2006, págs. 310-317
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1016/j.spl.2005.08.024
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