Statistical Analysis of Spatial Point Patterns (2nd ed.)

• Autores: Jürgen Symanzik
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Nº. 4, 2005, págs. 516-517
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/tech.2005.s318
• Texto completo no disponible (Saber más ...)