A Bayesian Scheme to Detect Changes in the Mean of a Short-Run Process

• Autores: Douglas M. Hawkins, Panagiotis Tsiamyrtzis
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Nº. 4, 2005, págs. 446-456
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/004017005000000346
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