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Dependence of self-absorption on thickness for thin and thick alpha-particle sources of UO<sub>2</sub>
Autores:
Miguel Jurado Vargas
,
Alfonso Fernández Timón
Localización:
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment,
ISSN
0168-9002, Vol. 548, Nº. 3, 2005,
págs.
432-438
Idioma:
inglés
DOI
:
10.1016/j.nima.2005.04.056
Texto completo no disponible
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