Likelihood ratio tests in curved exponential families with nuisance parameters present only under the alternative

• Autores: I. M. Skovgaard, C. Ritz
• Localización: Biometrika, ISSN 0006-3444, Nº. 3, 2005, págs. 507-517
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1093/biomet/92.3.507
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