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Algorithmic statistical process control: concepts and an applications

  • Scott A. Vander Wiel [1] ; William T. Tucker [2] ; Frederick W. Faltin [2] ; Necip Doganaksoy [2]
    1. [1] AT&T Bell Laboratories
    2. [2] GE Corporate Research and Development Center
  • Localización: Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 38, Nº. 3, 1993, págs. 267-268
  • Idioma: inglés
  • Texto completo no disponible (Saber más ...)

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