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Algorithmic statistical process control
:
concepts and an applications
Scott A. Vander Wiel
[1]
;
William T. Tucker
[2]
;
Frederick W. Faltin
[2]
;
Necip Doganaksoy
[2]
[1]
AT&T Bell Laboratories
[2]
GE Corporate Research and Development Center
Localización:
Quality control and applied statistics,
ISSN
0033-5207, Vol. 38, Nº. 3, 1993,
págs.
267-268
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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