Modélisation de la dégradation d’un composant à partir du retour d’expérience
Aurélie Billon, Laurent Bordes , Pierre Darfeuil, Sophie Humbert, Christian Paroissin
págs. 26-47
Hidden Markov Model for the detection of a degraded operating mode of optronic equipment
Camille Baysse, Didier Bihannic, Anne Gégout-Petit, Michel Prenat, Jérôme Saracco
págs. 48-61
Karim Claudio, Vincent Couallier, Yves Le Gat
págs. 62-77
Approche décisionnelle bayésienne pour estimer une courbe de fragilité
Guillaume Damblin, Merlin Keller, Alberto Pasanisi, Pierre Barbillon, Éric Parent
págs. 78-103
Testing an "Exponential Delay Time model'' against a "Random Sign Censoring model'' in Reliability
Jean-Yves Dauxois, Sarah Jomhoori, Fatemeh Yousefzadeh
págs. 104-119
Estimation dans le modèle de transformation linéaire avec données manquantes
Amel Mezaouer, Kamal Boukhetala, Jean-Pierre Dupuy
págs. 120-134
págs. 135-151
Interval reliability for semi-Markov systems in discrete time
Stylianos Georgiadis, Nikolaos Limnios
págs. 152-166
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