Resumen de Caracterización de materiales a través de medidas de microscopía electrónica de barrido (SEM)

Josué Itsman Clavijo Penagos

• español

  La microscopía de barrido electrónico (SEM) es una técnica de obtención de imágenes ampliamente utilizada en investigación de materiales debido a su alta resolución y capacidades de analizar características morfológicas, estructurales y químicas de las muestras bajo estudio. En este documento revisamos los fundamentos tanto conceptuales como de funcionamiento y utilidad de las imágenes que resultan de una medida de SEM, relacionando todo con el material más usado en fotocatálisis eterogénea, el ióxido de titanio (TiO2).

• English

  SEM is an image generation technique widely used on materials researchdue its high-resolution capabilities and proven aptitude to unveil morphological, structural and even chemical features of a given sample.This paper brings out a concise review of the fundamentals, instrumental details and usefulness of the resulting SEM images. All of the concluding facts were thus related with the most important hotocatalyst: TiO2.