Applied logistic regression
Información General
- Autores: David W. Hosmer, Stanley Lemeshow
- Editores: New York [etc. : John Wiley & Sons, cop. 1989
- Año de publicación: 1989
- País: Estados Unidos
- Idioma: inglés
- ISBN: 0-471-61553-6
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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