Rubio, Antonio, 1954-
Rubio, Antonio
José Antonio Rubio Sola Investigador ORCID:0000-0003-1625-1472
VIAF ID: 87224868 (Personal)
Permalink: http://viaf.org/viaf/87224868
Preferred Forms
- 100 0 _ ‡a José Antonio Rubio Sola ‡c Investigador ORCID:0000-0003-1625-1472
- 100 1 _ ‡a Rubio, Antonio
-
-
- 100 1 _ ‡a Rubio, Antonio ‡d 1954-
- 100 1 0 ‡a Rubio, Antonio ‡d 1954-
- 100 1 _ ‡a Rubio, Antonio, ‡d 1954-
-
4xx's: Alternate Name Forms (18)
Works
Title | Sources |
---|---|
4th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation, PATMOS'94 : proceedings : 17-19 October, 1994, Barcelona, Spain | |
Analysis and solutions for switching noise coupling in mixed-signal ICs | |
Aportació a la modelació del defecte de ruptura d'òxid prim en circuits CMOS de molt alt nivell d'integració (VLSI) | |
Aportació al test funcional de circuits integrats digitals | |
Aportación al análisis de la electromigración en circuitos integrados | |
Aportación al diseño digital de bajo consumo basado en técnicas de conmutación adiabática | |
Aportación al test de corriente quiescente "off-chip" en circuitos CMOS : interfase de control remoto 1149.1. | |
Aproximació a un sistema electrònic d'alta fiabilitat: test automàtic per corrent estàtic del processador i386X amb sensor "off-chip" | |
Comments on 18th century purismo. | |
Comparativa de la tecnología electrónica convecional y la biológica énfasis en la función de aprendizaje | |
Diseño de circuitos y sistemas integrados | |
Disseny de sistemes combinacionals síncrons més enllà del Worst Case Delay | |
La Estructura estrella en las redes locales de microcomputadores | |
Estudi d'acoblaments paràsits a circuits integrats CMOS | |
Estudi de la influència de les interconnexions en el disseny microelectrònic | |
Estudi de l'error de càrrega en la commutació del transistor de pas | |
Estudio de la viabilidad del test por corriente en circuitos integrados mixtos | |
First International Conference on Language Resources & Evaluation, Granada, Spain, 28-30 May, 1998 proceedings | |
Interface PC-VME (parte VME) | |
Mètode de test per a circuits analògics lineals mitjançant escombrat en frequència | |
La microélectronique simulateur en main | |
Nueva técnica de estimación del consumo de potencia a alto nivel de descripción | |
PATMOS'94 | |
Pràctiques d'electrònica : [4rt curs] | |
Problemes d'electrònica general | |
Proceedings of the II ARCHIMEDES Open Workshop on Syntesis of Testable Circuits : STC'95 February 10th, 1995, Barcelona, Spain | |
Sistema electrònic de comandament de la transmissió automàtica de l'automòbil | |
Spread spectrum clock generation i la seva implicació en el disseny de CI | |
Thermal testing of integrated circuits | |
Tolerant cell for nanoelectronic based computing |