Resumen de Diseño de circuitos integrados Iddq testeables basados en celdas CMOS

C. Ferrer, J. Oliver, Antonio Rubio , M. Rullán

• En este trabajo presentamos una aproximación al diseño para el test Iddq basado en la aplicación de sensores de corriente (del tipo integrador) a una estrategia de diseño basada en una biblioteca de celdas. El objetivo es poder detectar fallos que no son modelados correctamente mediante modelos clásicos de stuck-at y cuya principal característica es el exceso de consumo en estado estacionario. La estrategia seguida es aprovechar la partición del circuito en filas de celdas, acoplando un sensor modular a cada fila. El tamaño del sensor dependerá de la longitud de la fila así como de la frecuencia máxima de funcionamiento del circuito.