Fallos del tipo puente entre líneas de entrada y salida en circuitos de tecnología CMOS

• Autores: Rosa Rodríguez Montañes, Joan Figueras Pamies , Antonio Rubio
• Localización: Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 165-170
• Idioma: español
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• Resumen

  • En el trabajo se estudian los efectos de defectos del tipo puente entre las líneas de entrada y/o salida en circuitos CMOS combinacionales de varias salidas. Se modela el efecto del puente mediante una función digital (Función de Dominio) en la que intervienen los nodos unidos por el defecto y el circuito eléctrico circundante que determina su comportamiento digital. Se estudia con detalle la clase de puentes que generan valores de tensión que son interpretados lógicamente por el resto del circuito. Para esta clase se dan condiciones de detección del fallo para puentes entre entradas, entre salidas y puentes de realimentación (salidas con entradas). Para estos últimos se dan condiciones necesarias para oscilación y para la clase de circuitos con función de transferencia estática que cumpla ciertas condiciones se deriva una condición necesaria y suficiente para que el circuito oscile. Se analiza, también, el funcionamiento secuencial asíncrono de ese tipo de circuito defectuoso.

    Se da un ejemplo ilustrativo basado en una cadena de inversores con la salida del último puenteada a la entrada del primero, analizándose teóricamente y por simulación la frecuencia de oscilación del circuito defectuoso.