Estudio del comportamiento de un amplificador operacional en presencia de fallos físicos

• Autores: Miquel Roca Adrover , Antonio Rubio
• Localización: VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 63-68
• Idioma: español
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• Resumen

  • En este trabajo se realiza un análisis del efecto de fallos físicos en circuitos CMOS analógicos. Los circuitos considerados son amplificadores operacionales y los defectos considerados cortocircuitos (bridge faults) y transistores en estado de no conducción permanente (stuck-open). La caracterización de la corriente de consumo del circuito con fallos mostrará la posibilidad de test Idd (observación de la corriente) para circuitos analógicos y su efectividad.